A.作為參考,最終判廢應(yīng)將熒光屏上觀察到的缺陷與標(biāo)準(zhǔn)傷比較,決定成廢
B.作為判廢標(biāo)準(zhǔn)
C.有缺陷就報(bào)廢
D.大于人工傷幅度的就報(bào)廢
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A.0.1~0.5
B.<1
C.1~3
D.何范圍內(nèi)都可以
A.大于1秒
B.大于0.2微秒
C.大于0.1小于0.2微秒
D.小于0.1微秒
A.將界面波取進(jìn)一半
B.內(nèi)外傷都包括在內(nèi),界面波不取進(jìn)
C.只取外傷
D.只取內(nèi)傷
A.大于0.1mm
B.等于0.2mm
C.沒(méi)有任何要求
D.小于0.05mm
A.0.25兆赫
B.小于2兆赫
C.5~15兆赫
D.上述三種都可以
最新試題
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。