A.光能
B.機(jī)械能
C.X—射線
D.電磁波
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A.不必再用其他手段檢驗(yàn)
B.再用目視檢查就可放行
C.再經(jīng)渦流檢驗(yàn)就通過
D.必須按技術(shù)要求進(jìn)行其他方法的檢驗(yàn)
A.必須按質(zhì)保程序進(jìn)行
B.可以不納入質(zhì)量保證系統(tǒng)
C.檢驗(yàn)靈敏度越高越好
D.設(shè)備是合格品就行
A.探傷儀
B.探頭
C.記錄儀
D.上述三種部件
A.傳動裝置標(biāo)定
B.標(biāo)準(zhǔn)試樣板的標(biāo)定
C.探測系統(tǒng)綜合標(biāo)定
D.上述三種
A.板材平底孔
B.用其他試塊代替
C.模擬不結(jié)合層的標(biāo)準(zhǔn)缺陷
D.與成品元件比較
最新試題
（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯誤的是（）。
探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為（）。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
超聲波儀時基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
實(shí)際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。