A.不必再用其他手段檢驗(yàn)
B.再用目視檢查就可放行
C.再經(jīng)渦流檢驗(yàn)就通過(guò)
D.必須按技術(shù)要求進(jìn)行其他方法的檢驗(yàn)
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A.必須按質(zhì)保程序進(jìn)行
B.可以不納入質(zhì)量保證系統(tǒng)
C.檢驗(yàn)靈敏度越高越好
D.設(shè)備是合格品就行
A.探傷儀
B.探頭
C.記錄儀
D.上述三種部件
A.傳動(dòng)裝置標(biāo)定
B.標(biāo)準(zhǔn)試樣板的標(biāo)定
C.探測(cè)系統(tǒng)綜合標(biāo)定
D.上述三種
A.板材平底孔
B.用其他試塊代替
C.模擬不結(jié)合層的標(biāo)準(zhǔn)缺陷
D.與成品元件比較
A.沖壓
B.電火花刻制
C.選取的自然缺陷
D.平底孔
最新試題
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。