A、等于入射角
B、取決于使用的耦合劑
C、取決于使用的頻率
D、等于折射角
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、底波降低或消失
B、較高的雜波
C、超聲波的穿透力降低
D、以上都是
A、平底孔
B、V形缺口
C、橫通孔
D、大平底
A、水中聲速比工件聲速低
B、水中聲速比工件聲速高
C、水中溫度高
D、以上都不是
A、提高頻率
B、合適的水層距離
C、大直徑探頭探測
D、聚焦探頭探測
A、遠場區(qū)
B、近場區(qū)
C、過渡區(qū)
D、陰影區(qū)
最新試題
一次完整的兩面多層補焊,當正面打底層質(zhì)量進行過一次X射線檢測,若反面還需打底,則無需X射線檢測。
缺陷分類應符合驗收標準的要求,標準未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗范疇的缺陷,必要時可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。
探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進行應立即()。
對焊接接頭穩(wěn)定時間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應作出規(guī)定,檢驗監(jiān)控確認,檢驗蓋章時穩(wěn)定時間不足者應在申請單注明穩(wěn)定時間節(jié)點,否則X光室視為穩(wěn)定時間符合要求。
下面給出的射線檢測基本原理中,正確的是()。
超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗蓋章認可后送X光檢測。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
X射線檢測圖像直觀、缺陷定性準確,因此焊接缺陷無論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測。
二次打底焊接或重熔排除,無需辦理相關(guān)手續(xù),直接使用前次的申請手續(xù)。
射線檢測最有害的危險源是(),必須嚴加控制。