送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求，經(jīng)表面檢驗合格，申請單無需檢驗蓋章確認。

廢舊藥液應采用專用容器收集，定期送指定的機構處理。

X光檢驗組按復查清單組織復查，并出具X光底片復查報告，復查無遺留問題方可進行試壓。

底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。

產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗合格后不得再實施影響接頭性能的加工（如校形、修刮、重熔等），否則應重新申請進行X射線檢測。

對含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管，影響其阻抗變化的因素有（）

射線檢測最有害的危險源是（），必須嚴加控制。

探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進行應立即（）。

在射線照相檢驗中，隨著射線能量的提高，得到的圖像不清晰度也將增大。

提出有效磁導率的是下列哪位科學家（）