單項選擇題判定缺陷時,若底面第一次反射波波高(),缺陷第一次反射波波高與底面第一次反射波波高之比大于或等于50%,既可判為缺陷

A、>100%
B、<100%
C、>50%
D、<50%


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1.單項選擇題ZB J74003-88中規(guī)定的起始靈敏度試塊(板厚大于20mm),可使用直徑為()的平底孔試塊

A、Φ5.6mm
B、Φ5mm
C、Φ2mm
D、以上都不是

2.單項選擇題GB 11345-89標準規(guī)定,需要進行波幅和指示長度測定的缺陷是()

A、III區(qū)的缺陷
B、II區(qū)的缺陷
C、定量線及定量線以上的缺陷
D、I區(qū)的缺陷

3.單項選擇題JB 3963-85標準中進行等級分類的依據(jù)是()

A、單個缺陷反射波幅
B、缺陷引起的底波降低量
C、缺陷密集區(qū)占探傷總面積百分比
D、以上都可以作為獨立評級的依據(jù)

4.單項選擇題按JB3963-85標準檢驗餅形鋼鍛件時,應(yīng)記錄的缺陷是()

A、≥Φ3mm當量的密集區(qū)
B、當量>Φ4mm的單個缺陷
C、當量等于Φ4mm的缺陷密集區(qū)
D、b和c

最新試題

下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中,錯誤的是()。

題型:單項選擇題

對于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()

題型:單項選擇題

缺陷分類應(yīng)符合驗收標準的要求,標準未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗范疇的缺陷,必要時可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。

題型:判斷題

底片或電子圖片、X射線照相檢驗記錄、射線檢測報告副本、檢測報告等及臺帳由X光透視人員負責(zé)管理。

題型:判斷題

對含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()

題型:單項選擇題

X射線檢驗人員負責(zé)對需排除的超標缺陷實施定位、做好相應(yīng)標注,確保定位準確。

題型:判斷題

X光檢驗組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報告,復(fù)查無遺留問題方可進行試壓。

題型:判斷題

廢舊藥液應(yīng)采用專用容器收集,定期送指定的機構(gòu)處理。

題型:判斷題

檢測申請時工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求,檢驗蓋章確認,確保焊接、檢驗、檢測等全過程具有可追溯性。

題型:判斷題

增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。

題型:判斷題