單項選擇題從X射線管中發(fā)射出的射線包括（）。
A.連續(xù)X射線
B.標識X射線
C.β射線
D.A和B
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1.單項選擇題散射線的主要成份是低能電磁輻射，它是由光子在哪一過程中減弱而產(chǎn)生的（）。
A.光電過程
B.康普頓過程
C.電子對過程
D.電離過程
2.單項選擇題當光子與物質(zhì)相互作用時，光子的波長增加，方向改變，這是由于（）的結(jié)果。
A.光電效應(yīng)
B.康普頓散射
C.湯姆遜散射
D.電子對產(chǎn)生
3.單項選擇題強度為I的單色射線通過厚度為ΔX的材料后，強度減弱ΔI，其關(guān)系式為ΔI=μIΔX，此式表示下列哪種現(xiàn)象？（）
A.光電效應(yīng)
B.康普頓散射
C.吸收
D.半價層厚度
4.單項選擇題在射線探傷中應(yīng)用最多的三種射線是（）。
A.X射線、γ射線和中子射線
B.α射線、β射線和γ射線
C.X射線、γ射線和β射線
D.X射線、γ射線和α射線
5.單項選擇題質(zhì)子和中子的區(qū)別是中子沒有（）。
A.電荷
B.質(zhì)量
C.自旋
D.半衰期
最新試題
對于厚度變化較大的變截面工件透照，只要底片黑度符合GJB1187A的要求時，就可采用多膠片技術(shù)。
題型：判斷題
X光檢驗組按復(fù)查清單組織復(fù)查，并出具X光底片復(fù)查報告，復(fù)查無遺留問題方可進行試壓。
題型：判斷題
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
題型：判斷題
對含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管，影響其阻抗變化的因素有（）
題型：單項選擇題
為了提高射線照相對比度，可以采用高電壓、短時間、大管電流的方式曝光。
題型：判斷題
點焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測方法是X射線檢測。
題型：判斷題
二次打底焊接或重熔排除，無需辦理相關(guān)手續(xù)，直接使用前次的申請手續(xù)。
題型：判斷題
補焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗負責，對兩個補焊區(qū)交界部位補焊次數(shù)的界定，需要通過底片觀察提供幫助時，X光室應(yīng)予以配合。
題型：判斷題
在射線照相檢驗中，隨著射線能量的提高，得到的圖像不清晰度也將增大。
題型：判斷題
超差缺陷是否排除，由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗蓋章認可后送X光檢測。
題型：判斷題