A.用來(lái)估價(jià)磁場(chǎng)的大小是否滿足靈敏度的要求
B.需將有槽的一面朝向工件貼于探傷面上
C.施加磁粉時(shí)必須使用連續(xù)法
D.以上都是
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A、檢驗(yàn)磁化規(guī)范是否適當(dāng)
B、確定工件表面的磁力線的方向
C、綜合評(píng)價(jià)檢測(cè)設(shè)備和操作技術(shù)
D、以上都對(duì)
A.選擇磁化規(guī)范
B.鑒定磁粉探傷儀性能是否符合要求
C.鑒定磁懸液或磁粉性能是否符合要求
D.以上都是
A.稱量磁懸液的重量
B.測(cè)量磁懸液的濁度
C.測(cè)量磁粉在磁懸液中沉淀體積
D.測(cè)量磁鐵上吸引的磁粉
A.磁痕顯示的強(qiáng)度發(fā)生變化，解釋可能出錯(cuò)
B.磁通量將不均勻
C.零件將不能被磁化
D.將影響磁懸液的流動(dòng)性
A.防止磁粉凝固
B.防止腐蝕設(shè)備
C.保證零件適當(dāng)潤(rùn)濕
D.減少水的需要量
最新試題
底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測(cè)報(bào)告副本、檢測(cè)報(bào)告等及臺(tái)帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。
提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家（）
射線檢測(cè)最有害的危險(xiǎn)源是（），必須嚴(yán)加控制。
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見(jiàn)的要求，經(jīng)表面檢驗(yàn)合格，申請(qǐng)單無(wú)需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。
為了提高射線照相對(duì)比度，可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。
對(duì)于厚度變化較大的變截面工件透照，只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí)，就可采用多膠片技術(shù)。
超差缺陷是否排除，由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請(qǐng)、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測(cè)。
下面給出的射線檢測(cè)基本原理中，正確的是（）。
觀察底片時(shí)，為能識(shí)別缺陷圖像，缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。
對(duì)于直徑Φ50mm導(dǎo)管環(huán)焊縫，采用的透照方式為（）。