A．H=I/2πr；
B．H=2πr/I；
C．H=2π/Ir；
D．H=2r/πI
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A．高斯；
B．亨利；
C．法拉；
D．安培
A．電流：符號-I，單位-安培；
B．磁導(dǎo)率：符號-μ，單位-亨利/米；
C．磁通密度：符號-B，單位-高斯，國際單位制單位-特斯拉；
D．磁場強(qiáng)度：符號-H，單位-奧斯特，國際單位制單位-安/米；
E．以上都對
A．電場強(qiáng)度；
B．磁感應(yīng)強(qiáng)度；
C．磁場強(qiáng)度；
D．磁通量
A．電場強(qiáng)度；
B．磁感應(yīng)強(qiáng)度；
C．磁場強(qiáng)度；
D．磁通量
A、鐵磁性材料有磁滯現(xiàn)象
B、隨著含碳量增高，矯頑力增大
C、鐵磁性材料的磁導(dǎo)率μ遠(yuǎn)大于1，它是與外磁場變化無關(guān)的常數(shù)
D、鐵磁性材料比順磁性材料較難達(dá)到飽和狀態(tài)
E、A和B都對
最新試題
在不退磁的情況下，周向磁化產(chǎn)生的剩磁比縱向磁化產(chǎn)生的剩磁有更大的危害性。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：剩磁應(yīng)不大于0.3mT（240A/m）。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：大型工件可使用交流電磁軛進(jìn)行局部退磁或采用纏繞電纜線圈分段退磁。
磁懸液應(yīng)采用軟管沖淋或浸漬法施加于工件表面。
標(biāo)準(zhǔn)試塊主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測的系統(tǒng)靈敏度，確定被檢工件的磁化規(guī)范。
一般說來，進(jìn)行了周向磁化工件的退磁，應(yīng)先進(jìn)行一次縱向磁化。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的水?dāng)嘣囼?yàn)，主要是用來檢驗(yàn)水磁懸液對被檢表面的潤濕性能，只有出現(xiàn)裸露的“水?dāng)唷北砻妫趴梢蚤_始磁粉檢測。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時(shí)，按一條磁痕處理，其長度為兩條磁痕之和加間距。
材料磁導(dǎo)率低（剩磁大）及直流磁化后，退磁磁場換向的次數(shù)（退磁頻率）應(yīng)較多，每次下降的磁場值應(yīng)較小，且每次停留的時(shí)間（周期）要略長。
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同，只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。