核對軌頭剝離層下的傷損一般采用（）。

垂直法局部掃查即探頭在整個面上按規(guī)定，并事先劃出的線上移動，相鄰掃查線的間距往往（）探頭直徑。

剝離層下核傷可采用軌顎法進(jìn)行校對，用軌顎校對法校對時，需在鋼軌表面校對的靈敏度的基礎(chǔ)上增加（）。

耦合劑應(yīng)選擇容易附著在試件的表面上，有足夠的浸潤性以排除（）之間由于表面粗糙造成的空氣間隙。

使用雙探頭掃查時，如盲目改變掃查方向，將會導(dǎo)致（）。

在橫波探傷中，探頭K值對探傷（）有較大的影響。

鋼軌魚鱗地段探測中應(yīng)注意（）。

鋼軌曲線上股由于接觸疲勞強度不足，形成軌頭表面剝離，一般剝離層深度為（）左右。

探傷中探頭晶片尺寸增加，相應(yīng)的（）對探傷有利。

采用兩個斜探頭（一收一發(fā)）交叉（）的掃查方式叫做交叉掃查。