A.只允許向裝有載液的容器中施加磁粉
B.只允許向裝有磁粉的容器中施加載液
C.先用少量載液把磁粉調(diào)成糊狀，然后再緩慢稀釋
D.以上三種方法都不對(duì)
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你可能感興趣的試題
A、材料被磁化的難易程度
B、磁場(chǎng)穿透材料的能力
C、檢測(cè)最小缺陷的能力
D、以上都是
A.斷點(diǎn)相位控制器
B.整流器
C.快速斷電裝置
A.交流電
B.直流電
C.半波整流
D.三相全波整流
E.以上都是
A.方法與檢測(cè)表面裂紋相類(lèi)似
B.如果缺陷是由細(xì)小的氣孔組成的，就不難檢出
C.如果缺陷的寬度可以估計(jì)出來(lái)，檢測(cè)就很簡(jiǎn)單
D.磁粉探傷方法很難檢查出來(lái)
A.受腐蝕的表面
B.陽(yáng)極化的表面
C.涂漆的表面
D.a和c
最新試題
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱(chēng)為缺陷的（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線(xiàn)所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線(xiàn)長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱(chēng)為（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱(chēng)為（）。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。