A.200nm
B.365nm
C.400nm
D.沒(méi)有要求
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A.滲透檢測(cè)方法比渦流檢測(cè)方法靈活性小
B.對(duì)于鐵磁性材料的表面缺陷,滲透檢測(cè)方法不如磁粉檢測(cè)方法可靠
C.滲透檢測(cè)方法不能發(fā)現(xiàn)疲勞裂紋
D.對(duì)于微小的表面缺陷,滲透檢測(cè)方法比射線照相檢測(cè)方法可靠
A.酸洗
B.打磨
C.噴砂
D.蒸汽去除
A.溶劑去除型熒光滲透法
B.溶劑去除型著色滲透法
C.后乳化型熒光滲透法
D.水洗型著色滲透法
A.細(xì)長(zhǎng)形
B.球形
C.扁形
D.a與d混合物
E.b或d
A.250A
B.500A
C.1000A
D.以上都不對(duì)
最新試題
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
單探頭法容易檢出()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。