A.250A
B.500A
C.1000A
D.以上都不對(duì)
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A.更適合于野外現(xiàn)場(chǎng)探傷
B.成本低
C.可提高對(duì)細(xì)小缺陷的識(shí)別能力
D.最適用于干法
A.奧氏體鋼
B.馬氏體不銹鋼
C.鐵素體不銹鋼
D.以上都不適用
A.400安
B.600安
C.800安
D.1000安
A.只允許向裝有載液的容器中施加磁粉
B.只允許向裝有磁粉的容器中施加載液
C.先用少量載液把磁粉調(diào)成糊狀,然后再緩慢稀釋
D.以上三種方法都不對(duì)
A、材料被磁化的難易程度
B、磁場(chǎng)穿透材料的能力
C、檢測(cè)最小缺陷的能力
D、以上都是
最新試題
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
單探頭法容易檢出()。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
()是影響缺陷定量的因素。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。