A.降低雜波量
B.提高靈敏度
C.延長(zhǎng)掃查范圍
D.提高探傷速度
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A.靈敏度
B.水平線性
C.盲區(qū)
D.抑制
A.掃查
B.維修
C.校準(zhǔn)或標(biāo)定
D.補(bǔ)償
A.2.5PB20Z
B.5PFG25F20
C.2.5P20×20Z
D.5Pφ25FG20
A.變大
B.變小
C.不變
D.A、B和C
A.頻率為5MHz
B.矩形晶片尺寸為6×6㎜
C.K值為2
D.焦點(diǎn)尺寸為6×6㎜
最新試題
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用()填補(bǔ)工件的較薄部分,使透照厚度差減小的方法。
采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進(jìn)行周向檢測(cè)時(shí),缺陷定位說(shuō)法正確的有()。
滲透劑檢測(cè)壓力噴灌的存放應(yīng)避免()。
潤(rùn)濕是受檢表面附著的氣體被滲透液體所取代的現(xiàn)象,發(fā)生潤(rùn)濕時(shí)()。
超聲波檢測(cè)夾渣缺陷反射波特征包括()。
滲透檢測(cè)時(shí),滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi),將受檢部位置于合適的光源(發(fā)光強(qiáng)度足夠)下檢查時(shí),下列說(shuō)法正確的有()。
將彎曲液面對(duì)液體的壓強(qiáng)與平面液面對(duì)液體的壓強(qiáng)相比,任何液面膜對(duì)液體施以附加壓強(qiáng),下面描述正確的是()。
關(guān)于波束未擴(kuò)散區(qū),說(shuō)法正確的是()。
磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量中可采用()方法。
冷裂紋常見(jiàn)的有()。