A.不需要特殊的光源
B.滲透液滲入缺陷速度較快
C.檢測(cè)靈敏度高易于檢測(cè)小缺陷
D.便于在現(xiàn)場(chǎng)遠(yuǎn)距離進(jìn)行操作
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A.100毫米
B.越近越好
C.越遠(yuǎn)越好
D.300毫米
A.測(cè)定粘度
B.測(cè)定侵濕性
C.人工裂紋對(duì)比試塊
D.測(cè)定染色度
A.滲透
B.清洗
C.觀察
D.顯像
E.上述都包括
A.近表面缺陷
B.表面和近表面缺陷
C.表面缺陷
D.內(nèi)部缺陷
A.與被檢表面形成高對(duì)比度
B.與被檢表面形成低對(duì)比度
C.能粘附在被檢工件表面上
D.磁導(dǎo)率越低越好
最新試題
射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來，最主要的是決定于（）
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為（）
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是（）
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變（）
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是（）
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響（）
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）
對(duì)于鉬靶X射線管，在管電壓低于（）千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。