A、大于2
B、小于2
C、等于2
D、以上都有
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A.反射縱波
B.反射橫波
C.折射縱波和折射橫波
D.以上都有
A、表面波
B、橫波
C、縱波
D、B和C
A、0.5MHZ的縱波
B、2.5MHZ的橫波
C、10MHZ的爬波
D、5MHZ的表面波
A、表面波
B、縱波
C、橫波
D、三種波型的穿透力相同
A、反射波波型
B、入射角度
C、界面兩側(cè)的聲阻抗
D、以上都是
最新試題
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。