A.聲阻抗小且粘度大的耦合劑
B.聲阻抗小且粘度小的耦合劑
C.聲阻抗大且粘度大的耦合劑
D.以上都不是
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A.被檢工件厚度太大
B.工件底面與探測面不平行
C.耦合劑有較大聲能損耗
D.工件與試塊材質，表面光潔度有差異
A.只有當聲束投射到整個缺陷發(fā)射面上才能得到反射回波最大值
B.只有當聲束沿中心軸線投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值
C.只有當聲束垂直投射到工件內(nèi)缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值
D.人為地將缺陷信號的最高回波規(guī)定為測定基準
A.聲束擴散損失
B.耦合損耗
C.工件幾何形狀影響
D.以上都是
A.平底孔
B.平行于探測面且垂直于聲束的平底槽
C.平行于探測面且垂直于聲束的橫通孔
D.平行于探測面且垂直于聲束的V型缺口
A.作為探測時的校準基準，并為評價工件中缺陷嚴重程度提供依據(jù)
B.為探傷人員提供一種確定缺陷實際尺寸的工具
C.為檢出小于某一規(guī)定的參考反射體的所有缺陷提供保證
D.提供一個能精確模擬某一臨界尺寸自然缺陷的參考反射體
最新試題
調整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進行（）。
超聲檢測儀盲區(qū)是指（）。
關于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。
用折射角β的斜探頭進行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
當縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。