光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化（）

一般認(rèn)為表面波探測的有效深度約為（）

影響較大的散射線通常來自（）

以下試塊中，能用于測定縱波直探頭分辨力的是（）

在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)（r、R為簡體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿足（）

使用變型波檢測的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是（）

一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識別出來，最主要的是決定于（）

對于平行于檢測面的缺陷，一般采用（）檢測。

康普頓效應(yīng)對射線檢測的影響包括（）