A.底波降低或消失
B.噪聲或雜波增大
C.超聲嚴(yán)重衰減
D.以上都有
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A.原材料缺陷
B.鍛造缺陷
C.熱處理缺陷
D.以上都有
A.加熱、形變、成型和冷卻
B.加熱、形變
C.形變、成型
D.以上都不全面
A.盲區(qū)增大
B.聲束在管中折射發(fā)散
C.多種波形傳播
D.回波脈沖變寬
A.探傷速度較快
B.回波幅度隨缺陷長(zhǎng)度增大而增高
C.聚焦方法一般采用圓柱面透鏡或瓦片型鏡片
D.以上全部
A.對(duì)短缺陷有較高探測(cè)靈敏度
B.聚焦方法一般采用圓柱面聲透鏡
C.缺陷長(zhǎng)度達(dá)到一定尺寸后，回波幅度不隨長(zhǎng)度而變化
D.探傷速度較慢
最新試題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
儀器水平線性影響（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。