底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。

底片或電子圖片、X射線照相檢驗記錄、射線檢測報告副本、檢測報告等及臺帳由X光透視人員負責管理。

對焊接接頭穩(wěn)定時間有規(guī)定的產(chǎn)品，工藝規(guī)程應作出規(guī)定，檢驗監(jiān)控確認，檢驗蓋章時穩(wěn)定時間不足者應在申請單注明穩(wěn)定時間節(jié)點，否則X光室視為穩(wěn)定時間符合要求。

下面給出的射線檢測基本原理中，正確的是（）。

對于圓柱導體的外通過式線圈，其阻抗變大的情況有（）

超差缺陷是否排除，由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗蓋章認可后送X光檢測。

點焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測方法是X射線檢測。

產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗合格后不得再實施影響接頭性能的加工（如校形、修刮、重熔等），否則應重新申請進行X射線檢測。

二次打底焊接或重熔排除，無需辦理相關手續(xù)，直接使用前次的申請手續(xù)。

在射線照相檢驗中，隨著射線能量的提高，得到的圖像不清晰度也將增大。