某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）

超聲波斜探頭的K值等于（）的正切值。

二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）

探頭的分辨力（）

對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。

康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括（）

調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。

最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為（）

當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí)，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射，此散射為（）

底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是（）