A.5kHz
B.5MHz
C.2.5MHz
D.2.5KMz
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你可能感興趣的試題
A.縱波折射角
B.橫波折射角
C.縱波入射角
D.橫波反射角
A.重復(fù)頻率
B.晶片振動(dòng)頻率
C.回波頻率
D.電源頻率
A.能更準(zhǔn)確地測量缺陷高度
B.能更準(zhǔn)確地測量缺陷長度
C.更有利于發(fā)現(xiàn)和判斷上表面附近的缺陷
D.更有利于發(fā)現(xiàn)和判斷底面附近的缺陷
A.二次波檢測可以解決焊縫余高過寬影響探頭設(shè)置的困難
B.二次波檢測可以解決直通波盲區(qū)造成的近表面裂紋漏檢
C.二次波檢測以二次反射表面產(chǎn)生的波作為底面波
D.二次波檢測時(shí)探頭間距不能太大,以確?;夭ㄔ诘撞úㄐ娃D(zhuǎn)換之前到達(dá)
A.采用的TOFD和脈沖反射法組合檢測
B.檢測筒體縱焊縫時(shí)從內(nèi)表面掃查
C.檢測筒體環(huán)焊縫時(shí)從內(nèi)表面掃查
D.從內(nèi)表面和外表面進(jìn)行兩次掃查
最新試題
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
使用變型波檢測的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()
不同材料的相對吸收系數(shù)()
通常所謂20KV的X射線是指()
對于平行于檢測面的缺陷,一般采用()檢測。
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
康普頓效應(yīng)對射線檢測的影響包括()
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
在工作中超聲波檢測儀屏幕上可能會(huì)出現(xiàn)()等信號波,需要仔細(xì)判別。
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()