單項(xiàng)選擇題隔離開(kāi)關(guān)鍍銀層測(cè)厚采用（）原理。

A.熒光
B.電磁
C.渦流
D.超聲波


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1.單項(xiàng)選擇題不需要標(biāo)準(zhǔn)試塊校驗(yàn)、不受現(xiàn)場(chǎng)限制、不需要切割試樣且試樣表面不損壞的光譜分析方法是（）

A.看譜分析
B.手持X射線熒光光譜分析
C.手持激光誘導(dǎo)擊穿光譜分析
D.光電直讀光譜分析

2.單項(xiàng)選擇題分析（）材料，分析面不宜用砂輪機(jī)或砂紙打磨處理。

A.鋁基
B.鐵基
C.鎳基
D.鈦基

3.單項(xiàng)選擇題以下哪種方法不可用于戶外密閉箱體壁厚測(cè)量（）

A.X射線熒光法
B.超聲波反射法
C.游標(biāo)卡尺法
D.千分尺法

4.單項(xiàng)選擇題在施工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)構(gòu)支架鍍鋅層進(jìn)行厚度檢測(cè)時(shí)，以下哪種方式最合適（）

A.X射線熒光法
B.渦流測(cè)量法
C.光截法
D.磁性測(cè)量法

5.單項(xiàng)選擇題以下關(guān)于高倍顯微鏡鍍層測(cè)厚的說(shuō)法中正確的是（）

A.現(xiàn)場(chǎng)鍍層檢驗(yàn)
B.經(jīng)常性的實(shí)驗(yàn)室鍍層檢驗(yàn)
C.僅在對(duì)其他鍍層測(cè)量方法存在懷疑時(shí)使用
D.可以進(jìn)行閘刀鍍銀層厚度的非破壞性檢測(cè)