A.設(shè)置的增益過低
B.設(shè)置的增益過高
C.A掃描參數(shù)設(shè)置出錯
D.PCS計算出錯
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A.校準(zhǔn)試塊厚度和材質(zhì)應(yīng)與被檢測工件相同或相近
B.窄槽應(yīng)在開試塊的1/4厚度處和3/4厚度處
C.應(yīng)采集在上表面開口的窄槽的下端點(diǎn)信號進(jìn)行校準(zhǔn)
D.以上都對
A.69mm
B.138mm
C.92.35mm
D.112mm
A.選擇較大的PCS有利于提高分辨力
B.選擇較大的PCS有利于提高信噪比
C.選擇較大的PCS有利于獲得較大的覆蓋范圍
D.選擇較大的PCS有利于減小盲區(qū)
A.70°探頭分辨力更高一些
B.70°探頭信噪比更高一些
C.70°探頭波束覆蓋范圍更大一些
D.70°探頭近表面盲區(qū)更小一些
A.提高分辨力,所以應(yīng)選擇高頻率和小直徑探頭
B.提高信噪比,所以應(yīng)選擇低頻率和大直徑探頭
C.提高波束強(qiáng)度,所以應(yīng)選擇高頻率和大直徑探頭
D.提高波束的覆蓋范圍,所以應(yīng)選擇低頻率和小直徑探頭
最新試題
發(fā)生康普頓散射的條件是()
超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是()
調(diào)節(jié)掃描速度時,應(yīng)使()同時對準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
對于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時是不會產(chǎn)生特征X射線的。
物質(zhì)對輻射的吸收是隨什么而變()
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
以下試塊中,能用于測定縱波直探頭分辨力的是()
一個均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過一個厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
一般認(rèn)為表面波探測的有效深度約為()
若評片燈亮度增為原來的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>