（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。

調(diào)節(jié)時基線時，應(yīng)使（）同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。

關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯誤的是（）。

實(shí)際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。

單探頭法容易檢出（）。

底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。

用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。

在對缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。

用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。

（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。