A.單晶直探頭反射法
B.透射法
C.雙晶直探頭反射法
D.以上都是
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.可以精確調(diào)節(jié)或改變聲束角度
B.便于實(shí)現(xiàn)聚焦聲束檢測
C.便于實(shí)現(xiàn)快速或自動檢測
D.以上都是
A.由粗糙表面引起的聲能損失較小
B.表面盲區(qū)較小
C.人為因素影響較小
D.以上都是
A.經(jīng)工件返回的聲能損失較大
B.不適用于檢測形狀復(fù)雜的零件
C.不易保持穩(wěn)定的耦合
D.以上都是
A.操作簡便，適用于局部或現(xiàn)場檢測
B.聲能損失較少，可以提供較大的穿透能力
C.相同條件下，可提供更高的檢測靈敏度
D.以上都是
A.檢測大厚度零件，選擇較低的頻率是為了減少表面散射損耗
B.檢測小厚度零件，選擇較高的頻率是為了提高分辨力
C.檢測晶粒粗大零件，選擇較低的頻率是為了提高小缺陷檢測能力
D.以上都正確
最新試題
單探頭法容易檢出（）。
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
儀器水平線性影響（）。
探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為（）。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進(jìn)行（）。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進(jìn)行傳輸修正。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。