表征平面圓晶片發(fā)射的超聲束特征的主要是（）

直射法探傷時(shí)試件的探測(cè)面應(yīng)選在與缺陷最大表面（）

感應(yīng)電流法磁化工件主要采用（）

底片干燥時(shí)，一般不得超過(guò)60℃，是因?yàn)椋ǎ?/p>

采用X射線機(jī)對(duì)某一工件探傷時(shí)，焦距為1m，曝光時(shí)間為6min，其余條件均不變，曝光時(shí)間改為3min時(shí)透照焦距應(yīng)改為（）

脈沖反射法A型顯示取得缺陷信息是根據(jù)（）

鐵磁材料達(dá)到居里點(diǎn)時(shí)，會(huì)發(fā)生什么現(xiàn)象（）

在探傷靈敏度確定后，缺陷的當(dāng)量大?。ǎ?/p>

關(guān)于聲壓往復(fù)透射率，以下敘述正確的是（）

關(guān)于聲波的指向性和指向角，正確的是（）