（）件對(duì)不同類型的檢測(cè)對(duì)象和要求，采用的方式各有不同。

無(wú)損探傷檢測(cè)采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長(zhǎng)范圍為（）mm，峰值波長(zhǎng)為365mm。

磁性測(cè)厚技術(shù)包括機(jī)械式和（）兩種測(cè)量方法。

缺陷檢測(cè)即通常所說(shuō)的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。

渦流檢測(cè)儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出（）的相關(guān)信息。

缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來(lái)表示缺陷的（）

對(duì)于長(zhǎng)條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線式掃查。

渦流檢測(cè)線圈的自感式線圈由（）構(gòu)成。

對(duì)于圓盤形試件，常沿（）在圓面上進(jìn)行掃查。

在聲束垂直試件表面時(shí)，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。