單項選擇題當(dāng)要求探頭有最大靈敏度時()。
A、應(yīng)使用直探頭
B、要使用大晶片探頭
C、壓電元件應(yīng)在其基頻上激發(fā)
D、探頭的頻帶應(yīng)盡可能寬
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1.單項選擇題試塊的最小幾何尺寸根據(jù)幾何尺寸可能產(chǎn)生的干擾雜波必須比參考回波遲到()。
A、1/2λ以上
B、2λ以上
C、4λ以上
D、以上都不對
2.單項選擇題試塊的最小幾何尺寸根據(jù)()。
A、探頭耦合面幾何尺寸來決定
B、根據(jù)試塊材料決定
C、幾何尺寸可能產(chǎn)生的干擾雜波必須比參考回波遲到4λ以上
D、以上都不對
3.單項選擇題采用雙晶直探頭檢驗大口徑“管座角焊縫”時,調(diào)節(jié)探傷靈敏度應(yīng)采用()。
A、底波計算法
B、試塊法
C、通用AVG曲線法
D、以上都可以
4.單項選擇題直接接觸法探傷可以使用()。
A、直探頭
B、斜探頭
C、雙晶探頭
D、以上都可以
5.單項選擇題下列()晶片發(fā)射縱波的近場區(qū)最長。
A、1MHzφ14mm
B、2.5MHzφ14mm
C、1MHzφ20mm
D、25MHzφ30mm
最新試題
各類渦流檢測儀器的工作原理和()是相同的。
題型:單項選擇題
對檢測儀的時間基線進(jìn)行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。
題型:單項選擇題
渦流檢測中的對比試樣的()和材質(zhì)相對被檢測產(chǎn)品必須具有代表性。
題型:單項選擇題
波束截面中心聲能(),隨著與中心的距離的增大,聲能()
題型:單項選擇題
磁性測厚技術(shù)包括機(jī)械式和()兩種測量方法。
題型:單項選擇題
鋁合金電導(dǎo)率的渦流檢測中硬度檢驗是一種()方法。
題型:單項選擇題
對于圓盤形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。
題型:單項選擇題
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括()、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
題型:單項選擇題
當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時,如果聲束軸線移到缺陷邊緣,缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時波高的()
題型:單項選擇題
缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的()
題型:單項選擇題