A.320nm~400nm
B.280nm~315nm
C.400nm~700nm
D.365nm~375nm
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.改變滲透檢測劑類型
B.更換操作規(guī)程
C.使用了新的對比試塊
D.使用新的滲透檢測劑
A.靈敏度等級分類
B.質(zhì)量控制內(nèi)容
C.資料性引用文件
D.滲透基本程序
A.便于觀察缺陷顯示
B.提高觀察時的背景可見光照度
C.便于觀察顯示形成過程
D.防止過度去除,同時防止去除不足
A.工件被檢面處的觀察部位
B.容器內(nèi)腔空間處
C.被檢測工件所處的環(huán)境
D.整個被檢工件表面
A.溶劑懸浮式顯像
B.水溶解濕式顯像
C.干粉顯像方式
D.自顯像方式
最新試題
當缺陷聲程X=N/2(N 為探頭晶片近場長度)時,由于此時主聲束處聲壓為零,故無法檢測。
根據(jù)JB/T4730.3-2005《承壓設備無損檢測》標準規(guī)定,關于掃查靈敏度的敘述正確的是()。
如何進行鑄件探傷的透聲性測試?
對小口徑無縫鋼管檢測縱向缺陷時,超聲波束應由()。
如何利用壓電材料來選擇晶片?
直探頭探測鋼工件時,當工件中聲程等于二分之一近場長度時,由于聲束軸線聲壓為零,此處的缺陷將探測不到。
端點峰值法測得的缺陷指示長度比端點6dB 法測得的指示長度要小一些。
根據(jù)JB/T4730.3-2005《承壓設備無損檢測》標準規(guī)定,對厚200mm 鋼板用2.5P20Z 探頭探測可利用鋼板無缺陷完好部位第一次底波來校準靈敏度,不考慮材質(zhì)衰減,下列敘述正確的是()。
數(shù)字化探傷儀中的“采樣率”相當于模擬式探傷儀中的()。
雙晶直探頭的探測區(qū)為表面下的菱形區(qū),菱形區(qū)的中心離表面距離隨入射角增大而增大。