A.與頻率成反比
B.與頻率成正比
C.與頻率平方成正比
D.與頻率平方成反比
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你可能感興趣的試題
A.波陣面的幾何形狀
B.材料晶粒度
C.材料的粘滯性
D.以上全部
A.二次反射的橫波與入射波平行但方向相反
B.入射角為30°時反射率最高
C.入射角為45°時反射率高
D.入射角為60°時反射率最低
A.縱波折射角大于入射角
B.縱、橫波折射角均小于入射角
C.橫波折射角小于入射角
D.以上全不對
A.縱波折射角等于90°時的橫波入射角
B.橫波折射角等于90°時的縱波入射角
C.縱波折射角等于90°時的縱波入射角
D.縱波入射角等于90°時的折射角
A.折射縱波等于90°時的橫波入射角
B.折射橫波等于90°時的縱波入射角
C.折射縱波等于90°時的縱波入射角
D.入射縱波接近90°時的折射角
最新試題
單探頭法容易檢出()。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進(jìn)行()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯誤的是()。
利用底波計算法校準(zhǔn)靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
調(diào)節(jié)時基線時,應(yīng)使()同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。