A.深度范圍
B.深度細(xì)調(diào)
C.延遲或水平
D.以上都是
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A.發(fā)射強(qiáng)度
B.衰減器和增益
C.抑制和深度補(bǔ)償
D.以上都是
A.幾百到上千伏
B.幾十伏
C.幾伏
D.1伏
A.發(fā)射電路
B.掃描電路
C.同步電路
D.發(fā)射電路
A.連續(xù)波檢測(cè)儀
B.調(diào)頻波檢測(cè)儀
C.脈沖波檢測(cè)儀
D.以上都是
A.6dB
B.12dB
C.3dB
D.9dB
最新試題
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
單探頭法容易檢出()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
儀器水平線性影響()。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。