A.近場長度
B.頻率
C.晶片尺寸
D.聲束交區(qū)范圍
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你可能感興趣的試題
A.探測近表面缺陷
B.精確測定缺陷長度
C.精確測定缺陷高度
D.用于表面缺陷檢測
A.橫波斜探頭是由直探頭和透聲斜楔組成的
B.斜楔前面開槽的目的是減少反射雜波
C.斜楔中的縱波聲速應(yīng)大于工件中的縱波聲速
D.橫波是在斜楔與工件交界面產(chǎn)生的
A.硬保護(hù)膜探頭
B.軟保護(hù)膜探頭
C.大尺寸探頭
D.高頻直探頭
A.對晶片振動起阻尼作用
B.吸收晶片背面發(fā)出的雜波
C.對晶片起支撐作用
D.以上都是
A.縱波直探頭用于檢測與檢測面垂直的缺陷
B.橫波斜探頭用于檢測與檢測面傾斜的缺陷
C.表面波探頭用于檢測表面和近表面缺陷
D.蘭姆波探頭用于檢測薄板中的缺陷
最新試題
()可以對管路、管道進(jìn)行長距離檢測。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
利用底波計算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時,適用的工件厚度為()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點,說法錯誤的是()。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進(jìn)行傳輸修正。
利用底波計算法校準(zhǔn)靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。