（）常采用獨(dú)立坐標(biāo)系統(tǒng)。

偽距測(cè)量缺點(diǎn)有時(shí)間不宜測(cè)準(zhǔn)和（）

RTK測(cè)量的基本工作流程中，在至少（）個(gè)公共點(diǎn)上求WGS 84坐標(biāo)與已知地方坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換參數(shù)（即點(diǎn)校正）。

儀器及反光鏡的對(duì)中偏差均不應(yīng)大于（）。

度盤(pán)刻劃誤差，可以按照（）變換水平度盤(pán)位置削弱該誤差影響。

下列（）不屬于隧道斷面測(cè)量的主要方法。

水平角觀測(cè)誤差超限時(shí)，下列行為不符合規(guī)范規(guī)定的是（）。

精密光學(xué)水準(zhǔn)儀測(cè)量高程時(shí)應(yīng)使用（）

監(jiān)測(cè)基準(zhǔn)網(wǎng)點(diǎn)位穩(wěn)定性檢驗(yàn)方法有采用最小二乘平差的檢驗(yàn)方法、（）、采用最小二乘平差和數(shù)理統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)相結(jié)合的方法。

精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑，則說(shuō)明光學(xué)部件有（）現(xiàn)象。