A.布局上由整體到局部
B.精度上由高級到低級
C.次序上先測角后測距
D.布局上由平面到高程
E.次序上先控制后細部
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A.建筑坐標(biāo)系的坐標(biāo)軸通常與建筑物主軸線方向一致
B.建筑坐標(biāo)系的坐標(biāo)原點應(yīng)設(shè)置在總平面圖的東南角上
C.建筑坐標(biāo)系的縱坐標(biāo)軸通常用A表示,橫坐標(biāo)軸通常用B表示
D.建筑坐標(biāo)系的縱坐標(biāo)軸通常用B表示,橫坐標(biāo)軸通常用A表示
E.測設(shè)前需進行建筑坐標(biāo)系統(tǒng)與測量坐標(biāo)系統(tǒng)的變換
A.測量基本工作有水平角測量、水平距離測量、高差測量
B.水平角測量和水平距離測量,目的是確定點的平面位置
C.確定點的高程位置,應(yīng)進行高差測量
D.進行直線定向,需測量水平角E.高差測量只能采用水準(zhǔn)儀完成
A.地面兩點的高程之差稱為高差
B.高差與水準(zhǔn)面選擇有關(guān)系
C.hAB,-hBA
D.高差與地面兩點位置有關(guān)系
E.A點高于B點,則hAB大于0
A.從整體到局部
B.先測角后量距
C.先控制后碎部
D.由高級到低級
E.先外業(yè)后內(nèi)業(yè)
A.1954年北京坐標(biāo)系
B.1956年黃海高程系
C.1980西安坐標(biāo)系
D.1985國家高程基準(zhǔn)
E.2000國家大地坐標(biāo)系
最新試題
絕對定位定位精度為()。
路線定義(主點法)曲線左偏時,半徑輸入為()值。
已知某線路JD的觀測右角大小為229°09ˊ25〞,那么該線路的轉(zhuǎn)向角為()。
度盤刻劃誤差,可以按照()變換水平度盤位置削弱該誤差影響。
光電測距中對向觀測的作用是減弱大氣折光、()等對測量結(jié)果的影響。
下列()不屬于隧道斷面測量的主要方法。
衡量地形圖測量的技術(shù)指標(biāo)主要有地物點的()、等高線插求點的高程中誤差、細部點的平面和高程中誤差以及地形點的最大點位間距。
若依次采用元素法、主點法或交點法三種路線定義方法,那么路線定義的最終數(shù)據(jù)為最后采用()的定義方法所得到的有效數(shù)據(jù)。
精密光學(xué)水準(zhǔn)儀測量高程時應(yīng)使用()
RTK測量的基本工作流程中,在至少()個公共點上求WGS 84坐標(biāo)與已知地方坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換參數(shù)(即點校正)。