圖是橫波檢測(cè)示意圖,圖中標(biāo)注的A、B、C、D4個(gè)水平距離中,哪個(gè)表示1.5跨距()
A.A
B.B
C.C
D.D
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圖是直射縱波一次脈沖反射法檢測(cè)同樣厚度試件的三種典型的波形圖。比較各波形,試判斷在同樣檢測(cè)條件下,哪個(gè)波形圖表示無(wú)缺陷()
A.波形圖1
B.波形圖2
C.波形圖3
D.不能確定
圖是直射縱波一次脈沖反射法檢測(cè)同樣厚度試件的三種典型的波形圖。比較各波形,試判斷在同樣檢測(cè)條件下,哪個(gè)波形圖可能存在較小缺陷?()
A.波形圖1
B.波形圖2
C.波形圖3
D.不能確定
圖是直射縱波一次脈沖反射法檢測(cè)同樣厚度試件的三種典型的波形圖。比較各波形,試判斷在同樣檢測(cè)條件下,哪個(gè)波形圖可能存在較大缺陷()
A.波形圖1
B.波形圖2
C.波形圖3
D.不能確定
最新試題
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
儀器水平線性影響()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
單探頭法容易檢出()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。