圖是直射縱波一次脈沖反射法檢測同樣厚度試件的三種典型的波形圖。比較各波形，試判斷在同樣檢測條件下，哪個波形圖可能存在較小缺陷？（）
A.波形圖1
B.波形圖2
C.波形圖3
D.不能確定
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圖是直射縱波一次脈沖反射法檢測同樣厚度試件的三種典型的波形圖。比較各波形，試判斷在同樣檢測條件下，哪個波形圖可能存在較大缺陷（）
A.波形圖1
B.波形圖2
C.波形圖3
D.不能確定
圖是雙晶探頭脈沖反射法檢測示意圖，如果右圖中波T和波3分別是始波和試件底波，則波1和波2分別代表以下哪種波（）
A.波1是缺陷F波、波2是缺陷F二次波
B.波1是雜波、波2是缺陷F波
C.波1是界面波、波2為缺陷F波
D.以上都可能
一缺陷主平面垂直于試件A面且位于試件中部，如圖所示，如果只能從試件B面探測的話，采用下列哪種技術(shù)比較合適？（）
A.直射聲束單探頭
B. 斜射聲束單探頭
C.直射聲束雙探頭
D.斜射聲束雙探頭
一缺陷主平面垂直于試件A面且位于試件中部，如圖所示，如果只能從試件A面探測的話，采用下列哪種技術(shù)最為合適（）
A.直射聲束單探頭
B.斜射聲束單探頭
C.直射聲束雙探頭
D.斜射聲束雙探頭
圖是幾種收-發(fā)雙探頭檢測方法，如果圖中探頭的位置固定，則當(dāng)沒有缺陷F時，哪種排列方式的探頭可以接收到回波（）
A.圖中a
B.圖中b
C.圖中c
D.都不可以
最新試題
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
（）可以對管路、管道進(jìn)行長距離檢測。
探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為（）。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
實(shí)際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯誤的是（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。