圖是幾種收-發(fā)雙探頭檢測方法，如果圖中探頭的位置固定，則當沒有缺陷F時，哪種排列方式的探頭可以接收到回波（）
A.圖中a
B.圖中b
C.圖中c
D.都不可以
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圖是正常情況下帶延遲塊探頭直射聲束檢測波形圖，哪個描述是較為正確的（）
A.回波1為一次界面波，回波2為二次界面波
B.回波1為一次界面波，回波2為一次底波
C.回波1為始脈沖波，回波2為一次底波
D.回波1為始脈沖波，回波2為一次界面波
圖A是斜入射橫波檢測示意圖；如果斜探頭1位置是圖A右圖形的話，斜探頭2位置處的波形圖應(yīng)是圖B中的哪個（）
A.A
B.B
C.C
D.D
當采用直射脈沖反射法檢測時，在圖中，哪個是較典型的有缺陷的顯示（）
A.A
B.B
C.C
D.不能確定
當采用透射法檢測時，在圖中，哪個是較典型的有缺陷的顯示（）
A.A
B.B
C.C
D.不能確定
A.使始波寬度的影響落在延遲過程中
B.提高近表面缺陷的檢出能力
C.減少聲能損失
D.測量薄件的厚度
最新試題
超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。
儀器水平線性影響（）。
實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當提高后的靈敏度叫做（）。
在對缺陷進行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
（）是影響缺陷定量的因素。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。