A.800
B.850
C.900
D.950
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A.20000
B.24000
C.30000
D.40000
A.Ι＝（1200～2000）/N（A）
B.Ι＝（12000～20000）/N（A）
C.Ι＝（10000～15000）/N
D.Ι＝（10000～12000）/N
A.安培數(shù)
B.安匝數(shù)
C.瓦特?cái)?shù)
D.歐姆數(shù)
A.熒光磁粉比非熒光磁粉對(duì)缺陷的檢出率高
B.要用與探傷面形成低對(duì)比度的磁粉
C.磁懸液就是磁粉探傷用的水液或油液
D.磁粉越細(xì)越好
A.檢測(cè)表面缺陷
B.檢測(cè)近表面缺陷
C.以上都對(duì)
D.以上都不對(duì)
最新試題
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）
最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為（）
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。
對(duì)于鉬靶X射線管，在管電壓低于（）千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
影響較大的散射線通常來(lái)自（）
對(duì)軸類鋼制鍛件，用2.5P14的直探頭，在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí)，該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于（）
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述，不正確的一項(xiàng)是（）
以下試塊中，能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是（）
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）