超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。

調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。

縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。

利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。

單探頭法容易檢出（）。

關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。

（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。

在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。

超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。

儀器水平線性影響（）。