（）是影響缺陷定量的因素。

（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。

超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。

單探頭法容易檢出（）。

底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。

測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。

利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。

超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度，即（）。

超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量（）。

（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。