A.6dB
B.12dB
C.3dB
D.0dB
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A.聲壓均等
B.聲束截面上聲壓均等，離聲源不同距離聲束截面不相等
C.聲束不擴(kuò)散，不同距離聲束截面上聲壓不相等，某一聲程聲束截面上各處聲壓也不相等
D.隨離聲源距離的增加，聲束不斷擴(kuò)散，聲壓逐漸下降
A.鋼管軸方向傾斜入射
B.鋼管軸線垂直入射
C.鋼管橫截面中心線一側(cè)傾斜入射
D.鋼管橫截面中心線一側(cè)垂直入射
A.復(fù)合鋼板的形狀
B.表面狀態(tài)
C.聲阻抗、表面狀態(tài)及復(fù)合鋼板形狀
D.聲阻抗、聲速、表面狀態(tài)及復(fù)合鋼板形狀
A.三角回波正常出現(xiàn)，該軸無(wú)缺陷。
B.三角回波正常出現(xiàn)，該軸存在缺陷。
C.三角回波正常出現(xiàn)，會(huì)干擾缺陷波。
D.三角回波正常出現(xiàn)，不會(huì)干擾缺陷波。
A.不變
B.比實(shí)際深度大
C.比實(shí)際深度小
D.無(wú)法判定
最新試題
斜探頭探測(cè)焊縫時(shí)，在室內(nèi)溫度為18℃時(shí)，測(cè)定探頭K 值和調(diào)節(jié)掃描線比例，實(shí)際探測(cè)工件時(shí)的環(huán)境溫度為35℃，則檢測(cè)顯示的回波深度值為（）。
當(dāng)缺陷聲程X=N/2（N 為探頭晶片近場(chǎng)長(zhǎng)度）時(shí)，由于此時(shí)主聲束處聲壓為零，故無(wú)法檢測(cè)。
如何利用壓電材料來(lái)選擇晶片？
端點(diǎn)峰值法測(cè)得的缺陷指示長(zhǎng)度比端點(diǎn)6dB 法測(cè)得的指示長(zhǎng)度要小一些。
當(dāng)從母材側(cè)探測(cè)復(fù)合鋼時(shí)，熒光屏上只有始波和另一個(gè)回波，該回波的聲程與母材厚度相當(dāng)，則說(shuō)明該復(fù)合材料無(wú)脫接。
對(duì)小口徑無(wú)縫鋼管檢測(cè)縱向缺陷時(shí)，超聲波束應(yīng)由（）。
圓盤(pán)形聲源的未擴(kuò)散區(qū)內(nèi)聲壓變化規(guī)律為（）。
利用聲透鏡制作的聚焦探頭，要求聲透鏡中聲速大于透聲楔塊中聲速。
直探頭探測(cè)鋼工件時(shí)，當(dāng)工件中聲程等于二分之一近場(chǎng)長(zhǎng)度時(shí)，由于聲束軸線聲壓為零，此處的缺陷將探測(cè)不到。
數(shù)字化探傷儀中的“采樣率”相當(dāng)于模擬式探傷儀中的（）。