（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。

超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。

（）是影響缺陷定量的因素。

在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。

利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。

單探頭法容易檢出（）。

（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。

（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。

調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。

實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。