A.t分布有一個(gè)拐點(diǎn)
B.t分布與標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布的圖型特征相同
C.標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布是t分布的特殊形式
D.可用于根據(jù)小樣本來(lái)估計(jì)呈正態(tài)分布且方差未知的總體的均值
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.加修正值
B.乘修正因子
C.給出中位值
D.通過(guò)修正曲線或修正值表計(jì)算
A.找到實(shí)際原因時(shí)修正離群值,否則予以保留
B.剔除離群值,不追加觀測(cè)值
C.剔除離群值,追加新的觀測(cè)值或適宜的插補(bǔ)替代
D.將離群值修正為樣本平均值
A.靜態(tài)回彈彎沉
B.靜態(tài)總彎沉
C.動(dòng)態(tài)回彈彎沉
D.動(dòng)態(tài)總彎沉
A.靜態(tài)回彈彎沉
B.靜態(tài)總彎沉
C.動(dòng)態(tài)回彈彎沉
D.動(dòng)態(tài)總彎沉
A.48
B.47
C.46
D.45
最新試題
廢舊藥液應(yīng)采用專用容器收集,定期送指定的機(jī)構(gòu)處理。
產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗(yàn)合格后不得再實(shí)施影響接頭性能的加工(如校形、修刮、重熔等),否則應(yīng)重新申請(qǐng)進(jìn)行X射線檢測(cè)。
X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對(duì)需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。
缺陷分類應(yīng)符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗(yàn)范疇的缺陷,必要時(shí)可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。
像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報(bào)告,復(fù)查無(wú)遺留問(wèn)題方可進(jìn)行試壓。
航天無(wú)損檢測(cè)人員的資格分為三個(gè)等級(jí):Ⅰ級(jí)為初級(jí),Ⅱ級(jí)為中級(jí),Ⅲ級(jí)為高級(jí)。其中Ⅱ級(jí)人員應(yīng)具備的能力有()。
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
X射線檢測(cè)人員健康體檢為每()年一次。
檢測(cè)申請(qǐng)時(shí)工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求,檢驗(yàn)蓋章確認(rèn),確保焊接、檢驗(yàn)、檢測(cè)等全過(guò)程具有可追溯性。