判斷題同類型探頭,面積相同,頻率相同的圓晶片和方晶片的近場(chǎng)長(zhǎng)度相同。
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測(cè)定組合靈敏度時(shí),應(yīng)先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕,使電燥聲電平≦10%,再進(jìn)行測(cè)試。
題型:判斷題
曲面工件探傷時(shí),探傷面曲率半徑愈大,耦合效果愈好。
題型:判斷題
軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對(duì)探傷的影響。
題型:判斷題
縱波直探頭法主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面平行的缺陷。
題型:判斷題
底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。
題型:判斷題
脈沖反射法可對(duì)缺陷定性、定量和定位。
題型:判斷題
檢測(cè)面的選擇主要考慮缺陷取向,并結(jié)合工件形狀和檢測(cè)技術(shù)綜合考慮。
題型:判斷題
檢測(cè)面準(zhǔn)備的目的是為了保證良好的聲耦合。
題型:判斷題
斜探頭楔塊上部和前部開(kāi)消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處,減少聲能損失。
題型:判斷題
多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。
題型:判斷題