由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進(jìn)行橫波探傷。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

脈沖重復(fù)頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關(guān)，對(duì)厚度大的工件，應(yīng)采用較低的重復(fù)頻率。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

工件比較粗糙時(shí)，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭的分辨力。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。