JB/T4730.4-2005標準規(guī)定：當辯認細小缺陷磁痕時應用2～10倍放大鏡進行觀察。

磁粉檢測，所有的磁痕尺寸、數(shù)量和產(chǎn)生部位均應記錄并圖示。

標準試塊主要用于檢驗磁粉檢測的系統(tǒng)靈敏度，確定被檢工件的磁化規(guī)范。

C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同，只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。

JB/T4730.4-2005標準規(guī)定：磁粉檢測時一般應選用A1-60/100型標準試片。

JB/T4730.4-2005標準規(guī)定：剩磁應不大于0.3mT（240A/m）。

用連續(xù)法檢測時，檢測靈敏度幾乎不受被檢工件材質的影響，僅與被檢工件表面磁場強度有關。

相關顯示是由漏磁場吸附磁粉形成的磁痕顯示。

剩磁法不能用于干法檢測。

JB/T4730.4-2005標準規(guī)定：大型工件可使用交流電磁軛進行局部退磁或采用纏繞電纜線圈分段退磁。