C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同，只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。

打亂材料磁疇排布的兩種方法是：加熱到居里點(diǎn)溫度以上熱處理退磁法和反磁場退磁法。

用連續(xù)法檢測時(shí)，檢測靈敏度幾乎不受被檢工件材質(zhì)的影響，僅與被檢工件表面磁場強(qiáng)度有關(guān)。

在工件內(nèi)部的剩磁，周向磁化要比縱向磁化大的多。

組合裝配件應(yīng)分解后再進(jìn)行磁粉檢測。

對于交流線圈，線圈中的工件將影響電流的調(diào)整。

工件的退磁效果一般可用剩磁檢查儀或磁場強(qiáng)度計(jì)測定。

磁粉檢測，所有的磁痕尺寸、數(shù)量和產(chǎn)生部位均應(yīng)記錄并圖示。

JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：磁粉檢測時(shí)一般應(yīng)選用A1-60/100型標(biāo)準(zhǔn)試片。

JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時(shí)，按一條磁痕處理，其長度為兩條磁痕之和加間距。