H車間質(zhì)量監(jiān)督部門負(fù)責(zé)測量芯片鍍膜厚度，其生產(chǎn)規(guī)格是500±50μ（微米）。測厚儀在11年2月10日曾由上級(jí)主管部門進(jìn)行過校準(zhǔn)。為了監(jiān)測此測厚系統(tǒng)的性能，從3月1日開始，每天早晨正式工作前，先對一個(gè)厚度為500μ的標(biāo)準(zhǔn)片連續(xù)測量5次，堅(jiān)持檢測30天，記錄測量的偏差值，共得到150個(gè)數(shù)據(jù)。從數(shù)據(jù)上看，這30天的狀況是受控的，所有的點(diǎn)都落入控制限范圍內(nèi)。計(jì)算后得知，這150個(gè)偏差值數(shù)據(jù)的平均值X=0.94μ，標(biāo)準(zhǔn)差為S=1.42μ，經(jīng)單樣本T檢驗(yàn)，未發(fā)現(xiàn)偏差值之均值與0有顯著差異?？傊?，整個(gè)測量系統(tǒng)的準(zhǔn)確性（Accuracy）、精確性（Precision）及穩(wěn)定性（Stability）都是合格的。這里“此測量系統(tǒng)的準(zhǔn)確性（Accuracy）是合格的”指的是（）。