渦流檢測線圈是在被檢測導電材料或零件表面及近表面激勵產生（）

掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束（），保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。

對于長條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線式掃查。

缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導率、磁導率、邊條效應、提離效應等。

各類渦流檢測儀器的（）和結構各不相同。

在遠場區(qū)，當缺陷比聲束截面小時，缺陷波高與缺陷面積成（）

對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠場區(qū)內的縱波直探頭在試件表面移動，即可獲得缺陷的（）所在的位置，從而定出缺陷的平面位置。

渦流檢測儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出（）的相關信息。

渦流檢測輔助裝置的試樣傳動裝置在（）材生產線上的應用最為廣泛。

無損探傷檢測采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長范圍為（）mm，峰值波長為365mm。